Feature selection and sample self-correction in multiple instance learning with weak labeling Full article
| Conference |
XI International Scientific Conference "Computer Science and Applied Mathematics" 07-11 Oct 2026 , Алматы |
||
|---|---|---|---|
| Source | Информатика и прикладная математика: Материалы XI Междунар.
науч.-практ. конф. (07.10 – 11.10.2026 г.). В 2-х т.: т. 1. – Алматы, 2026. – 422 с.; т. 2-358с. Compilation, Алматы, Казахстан.2026. 422 c. |
||
| Output data | Year: 2026, Pages: 211-217 Pages count : 7 | ||
| Authors |
|
||
| Affiliations |
|
Funding (1)
| 1 | Министерство науки и высшего образования РФ | FWNF-2026-0005 |
Cite:
Berikov V.B.
, Kutnenko O.A.
Feature selection and sample self-correction in multiple instance learning with weak labeling
In compilation Информатика и прикладная математика: Материалы XI Междунар. науч.-практ. конф. (07.10 – 11.10.2026 г.). В 2-х т.: т. 1. – Алматы, 2026. – 422 с.; т. 2-358с.. 2026. – Т.1. – C.211-217.
Feature selection and sample self-correction in multiple instance learning with weak labeling
In compilation Информатика и прикладная математика: Материалы XI Междунар. науч.-практ. конф. (07.10 – 11.10.2026 г.). В 2-х т.: т. 1. – Алматы, 2026. – 422 с.; т. 2-358с.. 2026. – Т.1. – C.211-217.
Identifiers:
No identifiers