Feature selection and sample self-correction in multiple instance learning with weak labeling Научная публикация
| Конференция |
XI International Scientific Conference "Computer Science and Applied Mathematics" 07-11 окт. 2026 , Алматы |
||
|---|---|---|---|
| Сборник | Информатика и прикладная математика: Материалы XI Междунар.
науч.-практ. конф. (07.10 – 11.10.2026 г.). В 2-х т.: т. 1. – Алматы, 2026. – 422 с.; т. 2-358с. Сборник, Алматы, Казахстан.2026. 422 c. |
||
| Вых. Данные | Год: 2026, Страницы: 211-217 Страниц : 7 | ||
| Авторы |
|
||
| Организации |
|
Информация о финансировании (1)
| 1 | Министерство науки и высшего образования РФ | FWNF-2026-0005 |
Библиографическая ссылка:
Berikov V.B.
, Kutnenko O.A.
Feature selection and sample self-correction in multiple instance learning with weak labeling
В сборнике Информатика и прикладная математика: Материалы XI Междунар. науч.-практ. конф. (07.10 – 11.10.2026 г.). В 2-х т.: т. 1. – Алматы, 2026. – 422 с.; т. 2-358с.. 2026. – Т.1. – C.211-217.
Feature selection and sample self-correction in multiple instance learning with weak labeling
В сборнике Информатика и прикладная математика: Материалы XI Междунар. науч.-практ. конф. (07.10 – 11.10.2026 г.). В 2-х т.: т. 1. – Алматы, 2026. – 422 с.; т. 2-358с.. 2026. – Т.1. – C.211-217.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов